Des électrodes intracrâniennes sont parfois implantées dans le cerveau de patients épileptiques dans le cadre d'une évaluation pré-chirurgicale. Cette opération est réalisée par un neurochirurgien qualifié et le patient est surveillé pendant plusieurs jours pour examiner l'EEG et rechercher un foyer de crise. Traditionnellement, ces études sont effectuées à une fréquence d'échantillonnage relativement faible de 200 Hz. Cela limite l'EEG intracrânien (ou SEEG) à un examen des événements EEG dans une plage de 0 Hz à 60 ou 70 Hz.
Des études récentes sur des rongeurs ayant subi des crises artificiellement induites et des enregistrements de patients épileptiques avec implantation d'électrodes en profondeur lors de l'évaluation pré-chirurgicale ont montré qu'une activité à haute fréquence dans la plage de 80 à 500 Hz peut être présente entre les crises (ondulations et ondulations rapides) et liée aux crises. On a émis l'hypothèse qu'elles pourraient avoir un rôle épileptigène. Le département EEG du MNI a récemment acquis des amplificateurs capables d'enregistrer l'EEG à une fréquence d'échantillonnage de 2000 Hz. Cela nous permet d'examiner les effets des brèves oscillations à haute fréquence (HFO) de 80 Hz à 500 Hz. Notre groupe a commencé à examiner les composantes à haute fréquence chez les patients qui ont été implantés avec des électrodes intracrâniennes pour une évaluation pré-chirurgicale. La collecte et le traitement des données sont en cours, mais encore à un stade relativement précoce. Les premières études sont centrées sur les changements au cours des différentes étapes des crises et sur les périodes pré et post-pics.
Cette étude peut utiliser plusieurs méthodes pour examiner le SEEG, telles que les transformées de Fourier et les transformées en ondelettes. Cependant, dans notre laboratoire, nous avons beaucoup travaillé avec le marquage visuel des HFO et des pics par les cliniciens. Un exemple de la manière dont cela est fait est donné ici : hfos_marking_for_webpage.pps
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