Le microscope électronique à balayage Hitachi FlexSEM1000II permet une imagerie rapide des surfaces et l’analyse de la microstructure.
Les applications typiques comprennent :
- Analyse de la morphologie de surface
- Imagerie d’échantillons biologiques
- Analyse de la microstructure des matériaux
- Contrôle qualité de structures à l’échelle microscopique
- Détection et cartographie des éléments
- Imagerie environnementale d’échantillons non séchés
- Microscopie électronique en transmission à balayage (STEM)
Caractéristiques de l'équipement | Spécifications |
|---|---|
| Modèle | Hitachi FlexSEM1000II |
| Pilotage | Operation Control Panel |
| Caractéristiques et applications | 3-axis motor driven stage ( (X/Y/360°Rotation) Manual Z adjustment Tilt -15° to +90° Accelerating Voltage Range: 0.3kV to 20kV Magnification Range: 6x to 300,000x (image ratio) Tiling STEM holder for brightfield imaging Peltier heating and cooling stage (-25°C to +50°C) Variable pressure imaging (6 to 100Pa) Max sample size: 80mm diameter, 40mm thickness |
| Source d’électrons | Tungsten filament |
| Détecteurs | Secondary electron detector Backscattered electron detector (5 segments) Ultra-variable pressure detector (UVD) Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDS) |
| Logiciel | FlexSEM 1000 AZtecOne with Xplore Compact 30 |
| Salle | R1-009 |
